Wir möchten Sie hiermit auf die Session: Ionensonden Anwendungen an Geo-Materialien aufmerksam machen. Ziel dieser Session ist es, Anwendern der SIMS-Technologie die Gelegenheit zu geben, über ihre Erfahrungen mit Geo-Materialien zu berichten. Diese Session wird auch ein Forum für den Austausch von Informationen über die jüngsten Fortschritte in der (sub-)Nanogramm Beprobung, Gerätekalibrierung sowie über den Einsatz von SIMS bei sonst nicht lösbaren analytischen Fragestellungen sein. Dadurch soll auch zukünftigen SIMS-Nutzern die Möglichkeit gegeben werden, an Informationen sowohl über den Zugang zu analytischen Ressourcen als auch an SIMS Expertenwissen zu gelangen. Beiträge aus dem gesamten Spektrum der Ionenmikrosondenanalytik sind willkommen: Geochronologie, Spurenelement Analyse, Isotopenanalysen, Ionen-Mapping sowie Tiefenprofilanalytik.
Ion Microprobe characterization of geo-materials
The goal of this session is to bring together users of SIMS technology as applied to geo-materials in order to showcase their current activities. This session will also provide a forum for exchanging information about recent advances in (sub-) nanogram sampling, instrument calibration and the use of SIMS to address otherwise intractable analytical needs. This networking opportunity is also meant to provide future users with information about access to analytical resources and SIMS expertise. Contributions are invited from ion microprobe users covering the spectrum from in situ geochronology to trace element analysis to isotopic analyses to ion mapping and depth profiling.
Keynote speaker is Martin Whitehouse from the Swedish Museum of Natural History, Stockholm.
Abstract Deadline: 30.06.2010
For further Information: http://www.conventus.de/dmg2010/
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